Imagen de Amazon.com

Surface and thin film analysis : principles, instrumentation, applications / edited by H. Bubert and H. Jenett

TextoIdioma: ENG Editor: Weinheim : Wiley-VCH, c2002Descripción: xvii, 336 páginas : ilustracionesTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 3527304584 (papel libre de acido)Tema(s): Peliculas delgadas -- Superficies -- Analisis | Espectroscopía de electrones | EspectroscopíaClasificación CDD: 620/.44 Clasificación LoC:QC176.84S93 | S87

Etiquetas de esta biblioteca: No hay etiquetas de esta biblioteca para este título. Ingresar para agregar etiquetas.

Existencias
Tipo de ítem	Biblioteca actual	Colección	Clasificación	Copia número	Estado	Fecha de vencimiento	Código de barras	Reserva de ítems
Libros	Libros Libros	Coleccion General	QC176.84S93 S87 (Navegar estantería(Abre debajo))	1	Disponible		3368
Libros	Libros Libros	Coleccion General	QC176.84S93 S87 (Navegar estantería(Abre debajo))	1	Disponible		3423

Total de reservas: 0

Previo								Siguiente
Previo	QC176.84S93 H47 1996 Optical diagnostics for thin film processing /	QC176.84S93 N37 1989 Kinetics of ordering and growth at surfaces /	QC176.84S93 S87 Surface and thin film analysis principles, instrumentation, applications	QC176.84S93 S87 Surface and thin film analysis principles, instrumentation, applications	QC176.84S93 S95 1991 Laser surface processing and characterization : proceedings of Symposium E on Laser Surface Processing and Characterization of the 1991 E-MRS Spring Conference, Strasbourg, France, May 28-31, 1991 /	QC176.84S93 T43 Thin film and depth profile analysis /	QC176.84S93 T44 Thin films and interfaces : Proceedings of the materials research society annual meeting, november 1981, boston park plaza hotel, boston, massachusetts, u.s.a. /	Siguiente

compra 2013/06/06 1352.00

No hay comentarios en este titulo.

para colocar un comentario.

Universidad Nacional Autónoma de MéxicoCentro de Nanociencias y Nanotecnología (CNyN)Catálogo de la Biblioteca