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Topics in electron diffraction and microscopy of materials / Peter Bernhard Hirsch, [ed.]
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TextoIdioma: ENG Series Microscopy in materials science seriesEditor: Philadelphia, Pennsylvania : Institute of Physics, , 1999Descripción: vii, 196 páginasTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 075030538X (empastado : papel alcalino)Tema(s): Electrones -- Difracción | Microscopía electrónicaClasificación CDD: 502/.8/25 Clasificación LoC:QC793.5E628 | T66
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
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Libros
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Libros Libros | Coleccion General | QC793.5E628 T66 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 2535 |
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Articulos presentados en el simposium celebrado en Oxford el 18 septiembre de 1997
Incluye referencias bibliograficas
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