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Scanning electron microscopy : physics of image formation and microanalysis / Ludwing Reimer
Tipo de material:
TextoSeries Springer series in optical sciences ; v. 45Editor: Berlin : Springer, c1998Edición: 2nd completely rev. and updated edDescripción: 527 páginas : ilustracionesTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 3-540-63976-4 (encuadernado en tela : papel alcalino); 9783540639763Tema(s): Microscopios electrónicos exploradoresClasificación LoC:QH212.S3 | R45 1998
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
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Libros
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Libros Libros | Coleccion General | QH212.S3 R45 1998 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 4690 | ||
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Libros Libros | Coleccion General | QH212.S3 R45 1998 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 4691 |
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