High-resolution electron microscopy for materials science / D. Shindo, K. Hiraga
Tipo de material: TextoIdioma: Inglés Lenguaje original: Japonés Editor: Tokyo ; New York ; Springer Verlag, c1998Descripción: ix, 190 páginas : ilustracionesTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 4431702342 (rustica : papel alcalino)Tema(s): Materiales -- Microscopía | Microscopía electrónicaClasificación CDD: 620.1/1299 Clasificación LoC:TA417.23 | S45Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
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Libros | Libros Libros | Coleccion General | TA417.23 S45 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 2894 |
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