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Beam effects, surface topography, and depth profiling in surface analysis / edited by Alvin W. Czanderna, Theodore E. Madey and Cedric J. Powell
Tipo de material:
TextoIdioma: ENG Series Methods of surface characterization ; v. 5Editor: New York : Plenum Press, c1998Descripción: xix, 430 páginas : ilustracionesTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 0306458969Tema(s): Superficies (Tecnología) -- Análisis | Materiales -- Efectos de la radiaciónClasificación CDD: 620/.44 Clasificación LoC:TA418.7 | B43
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
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Libros
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Libros Libros | Coleccion General | TA418.7 B43 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 2489 | ||
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