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Scanned probe microscopy : Santa Barbara, CA, 1991 / H. Kumar Wickramasinghe, editor
Tipo de material:
TextoIdioma: ENG Series AIP conference proceedings ; v. 241Editor: New York : American Institute of Physics, c1992Descripción: x, 563 páginas : ilustracionesTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 0883188163Tema(s): Microscopia exploradora de sondas -- Congresos | Microscopía túnel de barrido -- CongresosClasificación CDD: 502/.8/25 Clasificación LoC:QH212.S33 | S36
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
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Libros
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Libros Libros | Coleccion General | QH212.S33 S36 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 2154 |
Total de reservas: 0
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Incluye referencias bibliograficas e indices.
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