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X-Ray microanalysis in the electron microscope / John A. Chandler
Tipo de material:
TextoIdioma: SPA Series Practical methods in electron microscopy. Part II ; ; v. 5Editor: Amsterdam : North-holland, 1977Descripción: 230 páginasTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 0720406072Tema(s): Espectroscopia de rayos-XClasificación LoC:QD98.E4 | C43
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
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Libros
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Libros Libros | Coleccion General | QD98.E4 C43 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 2057 |
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