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Reflection electron microscopy and spectroscopy for surface analysis / Zhong Lin Wang

Por: Wang, Zhong Lin [autor]Colaborador(es): University of CambridgeTipo de material: Texto

TextoIdioma: ENG Editor: New York : Cambridge University Press, 1996Descripción: vii, 436 páginasTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 0521482666Tema(s): Materiales -- Microscopía | Superficies (Tecnología) -- Análisis | Microscopía electrónica de reflexiónClasificación CDD: 620/.44 Clasificación LoC:TA417.23 | W35 1996

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