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Reflection electron microscopy and spectroscopy for surface analysis / Zhong Lin Wang
Tipo de material:
TextoIdioma: ENG Editor: New York : Cambridge University Press, 1996Descripción: vii, 436 páginasTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 0521482666Tema(s): Materiales -- Microscopía | Superficies (Tecnología) -- Análisis | Microscopía electrónica de reflexiónClasificación CDD: 620/.44 Clasificación LoC:TA417.23 | W35 1996
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
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Libros
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Libros Libros | Coleccion General | TA417.23 W35 1996 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 1558 |
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