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The role of microscopy in semiconductor failure analysis / B. p. richards and p. k. footner

TextoSeries Microscopy handbooks ; 25Editor: Oxford : Oxford University Press, 1992Descripción: vi, 108 páginasTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 0198564325Tema(s): Semiconductores -- Pruebas | Semiconductores -- Fallas | MicroscopiosClasificación LoC:TK7871.85 | R48

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