Imagen de Amazon.com

Atomic - scale imaging of surfaces and interfaces : Symposium held november 30- december 2, 1992 boston, massachusetts. u.s.a. / Edits. David k. biegelsen, David j. Smith, s. y. tong

TextoSeries Materials Research Society symposium proceedings ; v. 295Editor: Pittsburgh, pennsylvania : Materials research society, c1993Descripción: 288 páginasTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 1558991905Tema(s): Superficies (Tecnología) -- Congresos | Microscopios electrónicos exploradores | Estructura atómica -- CongresosClasificación LoC:TA418.7 | A765

Etiquetas de esta biblioteca: No hay etiquetas de esta biblioteca para este título. Ingresar para agregar etiquetas.

Existencias
Tipo de ítem	Biblioteca actual	Colección	Clasificación	Copia número	Estado	Fecha de vencimiento	Código de barras	Reserva de ítems
Libros	Libros Libros	Coleccion General	TA418.7 A765 (Navegar estantería(Abre debajo))	1	Disponible		977

Total de reservas: 0

Previo								Siguiente
Previo	TA418.7 A46 Advances in the mechanics and physics of surfaces /	TA418.7 A46 Advances in the mechanics and physics of surfaces /	TA418.7 A66 Applied surface analysis : a symposium /	TA418.7 A765 Atomic - scale imaging of surfaces and interfaces : Symposium held november 30- december 2, 1992 boston, massachusetts. u.s.a. /	TA418.7 B43 Beam effects, surface topography, and depth profiling in surface analysis /	TA418.7 B43 Beam effects, surface topography, and depth profiling in surface analysis /	TA418.7 B45 Introduction to surface roughness and scattering /	Siguiente

No hay comentarios en este titulo.

para colocar un comentario.

Universidad Nacional Autónoma de MéxicoCentro de Nanociencias y Nanotecnología (CNyN)Catálogo de la Biblioteca