Computed electron micrographs and defect indetification / By a. k. head, p. humble. l. m. clarebrough...

Colaborador(es): Head, A. KTipo de material: Texto

TextoSeries Defects in crystalline solids ; 7Editor: Amsterdam : North-holland, 1973Descripción: 400 páginasTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenTema(s): Procesamiento electrónico de datos -- Tales -- Defectos | Procesamiento electrónico de datos -- Microscopio electronicoClasificación LoC:QD921 | C64

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