Computed electron micrographs and defect indetification / By a. k. head, p. humble. l. m. clarebrough...
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TextoSeries Defects in crystalline solids ; 7Editor: Amsterdam : North-holland, 1973Descripción: 400 páginasTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenTema(s): Procesamiento electrónico de datos -- Tales -- Defectos | Procesamiento electrónico de datos -- Microscopio electronicoClasificación LoC:QD921 | C64
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
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Libros
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Libros Libros | Coleccion General | QD921 C64 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 1734 |
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