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Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis / Robert Edward Lee

Por: Lee, Robert Edward [autor]Tipo de material: Texto

TextoEditor: Englewood cliffs, new jersey : Ptr prentice hall, 1993Descripción: 458 páginasTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 0138137595Tema(s): Microanalisis electronico explorador | Microanálisis por rayos XClasificación LoC:QH212.S3 | L44

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