Universidad Nacional Autónoma de México
Centro de Nanociencias y Nanotecnología (CNyN)
Catálogo de la Biblioteca

Imagen de cubierta de Amazon
Imagen de Amazon.com

Surface measurement and characterization : ECO1 19-21 September, 1988, Hamburg, Federal Republic of Germany / ed. Jean M. Bennett ; sponsored by EPS-European Physical Society-Europtica-the European Federation for Applied Optics SPIE-the International Society for Optical Engineering

Por: European Congress on Optics (1988 : Hamburg, Alemania)Colaborador(es): European Physical Society | Society of Photo-optical Instrumentation Engineers | Society of Photo-optical Instrumentation EngineersTipo de material: TextoTextoSeries Proceedings of SPIE-the International Society for Optical Engineering ; v. 1009Editor: Bellingham, Washington : Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers, 1988Descripción: 308 páginasTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 0819400440Tema(s): Superficies (Tecnología) | Superficies asperas -- Medicion -- CongresosClasificación LoC:TA418.7 | E87
Etiquetas de esta biblioteca: No hay etiquetas de esta biblioteca para este título. Ingresar para agregar etiquetas.
Valoración
    Valoración media: 0.0 (0 votos)
Existencias
Tipo de ítem Biblioteca actual Colección Clasificación Copia número Estado Fecha de vencimiento Código de barras Reserva de ítems
Libros Libros Libros
Libros
Coleccion General TA418.7 E87 (Navegar estantería(Abre debajo)) 1 Disponible 1874
Total de reservas: 0

No hay comentarios en este titulo.

para colocar un comentario.

Universidad Nacional Autónoma de México 

Biblioteca del Centro de Nanociencias y Nanotecnología (CNyN)

©2023 Dirección General de Bibliotecas y Servicios Digitales de Información, UNAM

Aviso de Privacidad