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Secondary ion mass spectrometry : A practical handbook for dept profiling and bulk impurity analysis / R. g. Wilson, f. a. stevie, c. w. magee
Tipo de material:
TextoEditor: New York : J. Wiley, c1979Descripción: 32 páginasTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 0471519456Tema(s): Espectrometría de masas de iones secundariosClasificación LoC:QD96.S43 | W55
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
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Libros
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Libros Libros | Coleccion General | QD96.S43 W55 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 599 |
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"a wiley-interscience publication"
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