Detalles MARC
000 -LIDER |
campo de control de longitud fija |
01115nam a2200277zi 4500 |
005 - FECHA Y HORA DE LA ULTIMA TRANSACCION |
campo de control |
20230201161145.0 |
008 - ELEMENTOS DE LONGITUD FIJA—INFORMACION GENERAL |
campo de control de longitud fija |
040830n1990eng0 13 |
020 ## - NUMERO INTERNACIONAL NORMALIZADO PARA LIBROS |
Número Internacional Normalizado del libro |
1558990720 |
035 ## - NUMERO DE CONTROL DEL SISTEMA |
Número de control del sistema |
MX001000534370 |
050 ## - CLASIFICACION TOPOGRAFICA DE LA BIBLIOTECA DEL CONGRESO (LC) |
Número clasificador |
TA417.23 |
Número del ítem |
H54 |
245 00 - MENCION DEL TITULO |
Título |
High resolution electron microscopy of defects in materials : |
Parte restante del título |
Symposium held april 16-18, 1990, san francisco, california, u.s.a. / |
Mención de responsabilidad, etc. |
Ed. Robert Sinclair, David j. Smith, ulrich dahmen |
264 #1 - DECLARACION DE AVISO DE PRODUCCION, PUBLICACIÓN, DISTRIBUCIÓN, FABRICACION Y DERECHOS DE AUTOR PARA |
Lugar de producción, publicación, distribución, fabricación |
Pittsburgh, pennsylvania : |
Nombre del productor, editor, distribuidor, fabricante |
Materials research society, |
Fecha de producción, publicación, distribución, fabricación o aviso de derechos |
c1990 |
300 ## - DESCRIPCION FISICA |
Extensión |
Xi, 391 páginas |
336 ## - TIPO DE CONTENIDO |
Término del tipo de contenido |
texto |
Fuente |
rdacontent |
337 ## - TIPO DE MEDIO |
Término de tipo de medio |
sin medio |
Fuente |
rdamedia |
338 ## - TIPO DE PORTADOR |
Término de tipo de transporte |
volumen |
Fuente |
rdacarrier |
490 0# - MENCION DE SERIE |
Mención de serie |
Materials Research Society symposium proceedings ; |
Volume/sequential designation |
v. 183 |
650 ## - ASIENTO SECUNDARIO DE MATERIA - TERMINO TEMATICO |
Término temático o nombre geográfico como elemento de entrada |
Materiales |
Subdivisión general |
Microscopia |
Subdivisión de forma |
Congresos |
650 ## - ASIENTO SECUNDARIO DE MATERIA - TERMINO TEMATICO |
Término temático o nombre geográfico como elemento de entrada |
Materiales |
Subdivisión general |
Defectos |
Subdivisión de forma |
Congresos |
650 ## - ASIENTO SECUNDARIO DE MATERIA - TERMINO TEMATICO |
Término temático o nombre geográfico como elemento de entrada |
Microscopía electrónica |
Subdivisión de forma |
Congresos |
700 ## - ASIENTO SECUNDARIO - NOMBRE PERSONAL |
Nombre personal |
Sinclair, Robert |
Término de relación |
editor |
700 ## - ASIENTO SECUNDARIO - NOMBRE PERSONAL |
Nombre personal |
Smith, David J. |
Fechas asociadas con el nombre |
1948- |
Término de relación |
editor |
700 ## - ASIENTO SECUNDARIO - NOMBRE PERSONAL |
Nombre personal |
Dahmen, Ulrich |
Término de relación |
editor |
830 #0 - ASIENTO SECUNDARIO DE SERIE--TITULO UNIFORME |
Título uniforme |
Materials Research Society symposium proceedings |
Número de serie estándar internacional |
0272-9172 |