Detalles MARC
000 -LIDER |
campo de control de longitud fija |
01405nam a2200313zi 4500 |
005 - FECHA Y HORA DE LA ULTIMA TRANSACCION |
campo de control |
20230201161139.0 |
008 - ELEMENTOS DE LONGITUD FIJA—INFORMACION GENERAL |
campo de control de longitud fija |
040830s1978 000 0 eng |
020 ## - NUMERO INTERNACIONAL NORMALIZADO PARA LIBROS |
Número Internacional Normalizado del libro |
0444851305 |
035 ## - NUMERO DE CONTROL DEL SISTEMA |
Número de control del sistema |
MX001000380516 |
050 ## - CLASIFICACION TOPOGRAFICA DE LA BIBLIOTECA DEL CONGRESO (LC) |
Número clasificador |
TA417.23 |
Número del ítem |
D52 1978 |
245 00 - MENCION DEL TITULO |
Título |
Diffraction and imaging techniques in material science / |
Mención de responsabilidad, etc. |
Editors s. amelinckx, r. gevers, j. van landuyt |
250 ## - DECLARACION DE EDICION |
Mención de edición |
2 # rev. ed. |
264 #1 - DECLARACION DE AVISO DE PRODUCCION, PUBLICACIÓN, DISTRIBUCIÓN, FABRICACION Y DERECHOS DE AUTOR PARA |
Lugar de producción, publicación, distribución, fabricación |
Amsterdam, holanda : |
Nombre del productor, editor, distribuidor, fabricante |
North-holland, |
Fecha de producción, publicación, distribución, fabricación o aviso de derechos |
1978 |
300 ## - DESCRIPCION FISICA |
Extensión |
2 volúmenes |
336 ## - TIPO DE CONTENIDO |
Término del tipo de contenido |
texto |
Fuente |
rdacontent |
337 ## - TIPO DE MEDIO |
Término de tipo de medio |
sin medio |
Fuente |
rdamedia |
338 ## - TIPO DE PORTADOR |
Término de tipo de transporte |
volumen |
Fuente |
rdacarrier |
500 ## - NOTA GENERAL |
Nota general |
"compris new conributions and revised and vedated papers originally presented at the international summer course on material science, antwerp, 1969, and published in 1970 under titl: modern diffraction and imaging techniques in |
500 ## - NOTA GENERAL |
Nota general |
science" |
505 ## - NOTA DE CONTENIDO CON FORMATO PREESTABLECIDO |
Nota de contenido con formato preestablecido |
Contenido: v.1. electron microscopy.-- v.2. imaging and diffraction techniques |
650 #0 - ASIENTO SECUNDARIO DE MATERIA - TERMINO TEMATICO |
Término temático o nombre geográfico como elemento de entrada |
Microscopía electrónica |
Subdivisión de forma |
Congresos |
650 #0 - ASIENTO SECUNDARIO DE MATERIA - TERMINO TEMATICO |
Término temático o nombre geográfico como elemento de entrada |
Sistemas de imágenes |
Subdivisión de forma |
Congresos |
650 #0 - ASIENTO SECUNDARIO DE MATERIA - TERMINO TEMATICO |
Término temático o nombre geográfico como elemento de entrada |
Electrones |
Subdivisión general |
Difraccion |
Subdivisión de forma |
Congresos |
700 ## - ASIENTO SECUNDARIO - NOMBRE PERSONAL |
Nombre personal |
Gevers, R., |
Término de relación |
editor |
700 ## - ASIENTO SECUNDARIO - NOMBRE PERSONAL |
Nombre personal |
Landuyt J Van |
Término de relación |
editor |
700 1# - ASIENTO SECUNDARIO - NOMBRE PERSONAL |
Nombre personal |
Amelinckx, S., |
Término de relación |
editor |
711 #I - ASIENTO SECUNDARIO - NOMBRE DE REUNION |
Nombre de la reunión o nombre de la jurisdicción como elemento de entrada |
International Summer Course and Material Science |
Fecha de la reunión o firma del tratado |
(1969 : Antwerp, Nueva York). |
Número (BK CF MP MU SE VM MX) [OBSOLETO] |
Modern Diffraction and Imaging Techniques in Material Sciences |