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Anomalous X-ray scattering for materials characterization : atomic-scale structure determination /

Waseda, Yoshio,

Anomalous X-ray scattering for materials characterization : atomic-scale structure determination / Yoshio Waseda - xiii, 214 páginas : ilustraciones - Springer tracts in modern physics, v. 179 . - Springer tracts in modern physics .

3540434437 (papel libre de acido)


Rayos X--Dispersión

QC482.S3 / W37

539 s 548/.83

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