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In situ real time characterization of thin films / edited by Orlando Auciello, Alan R. Krauss

In situ real time characterization of thin films / edited by Orlando Auciello, Alan R. Krauss - xi, 263 páginas : ilustraciones ;

"A Wiley-Interscience publication "

0471241415 (encuadernado en tela : papel alcalino)


Películas delgadas

QC176.83 / I57

530.4/275

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