In situ real time characterization of thin films / edited by Orlando Auciello, Alan R. Krauss
In situ real time characterization of thin films / edited by Orlando Auciello, Alan R. Krauss
- xi, 263 páginas : ilustraciones ;
"A Wiley-Interscience publication "
0471241415 (encuadernado en tela : papel alcalino)
Películas delgadas
QC176.83 / I57
530.4/275
"A Wiley-Interscience publication "
0471241415 (encuadernado en tela : papel alcalino)
Películas delgadas
QC176.83 / I57
530.4/275