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Scanned probe microscopy : Santa Barbara, CA, 1991 / H. Kumar Wickramasinghe, editor - x, 563 páginas : ilustraciones ; - AIP conference proceedings ; v. 241 . - AIP conference proceedings .

Incluye referencias bibliograficas e indices.

ISBN: 0883188163

Subjects--Topical Terms:
Microscopia exploradora de sondas--Congresos
Microscopía túnel de barrido--Congresos

LC Class. No.: QH212.S33 / S36

Dewey Class. No.: 502/.8/25