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Reflection electron microscopy and spectroscopy for surface analysis /

Wang, Zhong Lin,

Reflection electron microscopy and spectroscopy for surface analysis / Zhong Lin Wang - vii, 436 páginas

Incluye referencias bibliograficas e indices.

0521482666


Materiales--Microscopía
Superficies (Tecnología)--Análisis
Microscopía electrónica de reflexión

TA417.23 / W35 1996

620/.44

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