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Computed electron micrographs and defect indetification / By a. k. head, p. humble. l. m. clarebrough... - 400 páginas - Defects in crystalline solids ; 7 .

Subjects--Topical Terms:
Procesamiento electrónico de datos--Tales--Defectos
Procesamiento electrónico de datos--Microscopio electronico

LC Class. No.: QD921 / C64